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Hommel-Etamic nanoscan

nanoscan 测量仪采用粗糙度轮廓度一体式传感器,可快速进行纳米级别的粗糙度和轮廓测量。

Hommel-Etamic nanoscan - 可快速进行纳米级别的粗糙度和轮廓测量

该光机测量系统非常精确,能以0.6 纳米的高分辨率测量最精细表面的粗糙度,测量行程宽度为 24 毫米,并且探测长度为 200 毫米。即使在最小的公差下,它也能可靠地进行测量。正因如此,该系统广泛用于各种需要最高精密度的应用场合,例如制造滑动轴承、滚动轴承和滚珠轴承

nanoscan 与向上/向下测量相结合,可以用于执行范围广泛的测量任务:

  • 测量哥特式弧形
  • 曲面的粗糙度测量
  • 最小粗糙度公差的测量
  • 圆锥角测量:得益于向上/向下测量,可以用最高精度测量绝对圆锥角
  • 使用软件中的强大评估选项比较目标/实际形状

测量运行基本上是自动化的。系统会检测正在使用哪个探臂,并相应地自动设置测量条件。探臂以磁力连接到测量仪。这意味着可以快速且安全地更换探臂。业纳可以为每个测量任务提供合适的探臂。还可以轻松扩展测量系统,以便根据您的个人需求精确定制。

nanoscan 855 甚至采用粗糙度轮廓度一体式传感器,这使它非常适合执行表面测量领域的所有测量任务。该测量仪可节省时间,且具有成本效益。

优点

  • 高精度:极其精密可靠的光机测量系统。
  • 节省时间:同时测量粗糙度和轮廓特性。
  • 自动化:可以独立设置探测力和测量条件。
  • 灵活:可以快速且安全地更换探臂。
  • 用途广泛:因为探臂范围广泛。

应用

  • 轴承行业:在制造滑动轴承、滚动轴承和滚珠轴承时处理粗糙度和轮廓。


产品预览

技术数据

Z 轴测量范围/分辨率:                 24 毫米/0.6 纳米或 48 毫米/1.2 纳米

测量原理:                                               光机测量系统、触觉测量

探测力:                                                                可以用电子方式调节

探测方向:                                                    向上/向下

扫描单元测量范围/分辨率:  200 毫米/10 纳米

直线度:                                          ≤ 0.4 微米/200 毫米



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