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Hommel-Etamic surfscan:只需一台测量仪即可进行粗糙度和轮廓测量

由于将轮廓和粗糙度测量相结合,因此您可以在保持相同质量水准的同时加快测量运行速度。

Hommel-Etamic surfscan - 根据自己的具体需求来配置测量站

Hommel-Etamic surfscan 是通用的粗糙度和轮廓测量系统,便于您进行质量控制。使用该光机探测系统,您可以在一次运行中测量工件的粗糙度和轮廓。所有特性均清晰地显示在报告中。

在整个测量范围中以 6 纳米的高分辨率测量,因此能可靠地测量最精细表面的粗糙度,还可以测量关键轮廓特性。

得益于可以快速且安全地更换的智能探臂,可以毫无问题地执行其他测量任务。内置的 RFID 芯片确保探臂自动分配给测量程序。

测量系统采用模块化设计,使您可以根据自己的确切需求来定制测量站。如有必要,可以使用其他探测系统扩展 测量系统 - 例如为了增加轮廓测量范围,或为了进行特定的粗糙度测量。

优点

    • 高精度:精确的重复测量结果 - 即使对于复杂的测量任务而言也是如此
    • 节省时间:同时测量粗糙度和轮廓
    • 自动:RFID 技术可检测到探臂并自动设置测量参数
    • 客户定制:根据您的具体需求来配置测量站




应用

  • 车工业:用于同时测量组件粗糙度和轮廓的测量仪



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