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使用计算全息图进行的个性化光学元件干涉测试

业纳的计算全息图用于光学元件的干涉测试,测量设定根据您的具体要求精确量身定制。

计算全息图(CGH)测量站

业纳采用快速、高效的光刻(也称“微光刻”)工艺制造计算全息图(CGH)。我们可以开发出定制的测试设置以满足您的需求,让您可以对您的非球面镜头进行干涉测试。

CGH 将干涉仪中的波前转换为非球面波前。这让您使用斐索(Fizeau)干涉仪进行测试时有更多选项,从而可以测试非球面、柱面和自由曲面。

CGH 通过集成调整功能被放置在干涉仪的内部。CGH 被放置在参考镜头和您想要测量的对象之间。距离可以自由设定,以便使用您的测量系统的完整分辨率由于 CGH 的优化定位,几乎可以完全消除反射。

专门制备特殊的基片可以用来制造我们的 CGH 。这可保证极佳的测量精度和质量。计算全息图不会随着时间推移而渐渐消失,它们提供的快速、高分辨率测量具有高精度和可重复性。因此,CGH 是您测量和矫正光学表面的理想工具。由于 CGH 易于使用,甚至可用于透镜的大批量制造过程。

优点

  • 客户定制:CGH 可以根据您的特别要求量身定制
  • 经过优化:根据干涉测试的需要完美定制测量设置
  • 精密:可在干涉仪中精确定位全息图
  • 高效:标准化的生产流程确保全息图可以快速制造
  • 专业知识:业纳专家随时为您提供支持和建议

应用领域

  • 精密测量:非球面透镜等光学元件的干涉测试

基于计算全息图获得测量的测试设置

测试设置经过个别调整,可以对非球面和圆柱形表面进行干涉测试。为特定应用定制的特别测试设置必须由专门的咨询服务人员预先设定。

测试设置 1 用于凸试样的干涉测试。

计算全息图:设置 1 用于凸试样的干涉测试
通过专门的计算全息图生成会聚测试波,从而可以对测试样本进行精密测量

测试设置 2 用于凹试样的干涉测试。

设置 2 用于凹试样的干涉测试
CGH 的焦外配置生成一个发散测试波,用作试样的精确测量。

测试设置 3 同样用于凹试样的干涉测试。

CGH 设置 3 同样用于凹试样的干涉测试。
CGH 配置在焦内,并生成发散测试波。
这种测试设置的优点是可以测试大直径的元件。


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Robin Bai

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